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| 日本放射光学会誌 |
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| Vol.22,No3/May.2009 |
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| 【表紙の説明】 表面の透過X 線回折。薄い結晶をもちいれば，結晶内部からの散乱がおさえられ，表面からの明瞭なX 線回折パターンが得られる。反射配置による従来の方法にくらべ，測定時間を大幅に短縮でき，測定精度も高い。進展しつつある表面における直接法との連携により，表面物性の理解を深めるための表面構造の網羅的研究が可能となる。 |
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* 表面X 線回折の最近の動向と位相問題
田尻寛男，高橋敏男（p.131）（11ページ、3,338k） |
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* The Synchrotron Radiation beamline as a pedagogical tool in engineering schools and universities Pascal Bernaud, Antonia Ceppi, Benjamin Fournier,Pascal Morenton and Jean-Michel Gillet（p.142）（9ページ、2,225k） |
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* 時分割QXAFS 法による高活性パラジウム触媒の形成過程および動的挙動の解明 奥村和（p.151）（7ページ、6,081k） |
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* ［検出器シリーズ(8)］イメージを写すⅠ（CCD 検出器） 上杉健太朗，竹内晃久，星野真人（p.158）（11ページ、5,215k） |
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| *第2 回XFEL3 極ワークショップ報告 矢橋牧名，田中均（p.169）（4ページ、6,439k） |
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